Unser Kerngeschäft ist die Entwicklung zuverlässiger, hochwertiger Lösungen für die Partikelcharakterisierung. Wir produzieren Geräte, die auf Basis von Laserbeugung, Dynamischer und Statischer Bildanalyse sowie Dynamischer Lichtstreuung arbeiten. Ergänzend bietet unsere Schwesterfirma Retsch Analysensiebmaschinen und Siebe für die Partikelgrößenanalyse an.
Dynamische Bildanalyse (DIA)
Für Partikelgrößen im Bereich von 0,8 µm bis 135 mm ist die Dynamische Bildanalyse (DIA) das am besten geeignete Verfahren für die Partikelcharakterisierung. Die Produkte, die Microtrac in diesem Segment in den letzten 25 Jahren entwickelt hat, erfüllen die Anforderungen der ISO 13322-2 Norm und analysieren Hunderte von Bildern pro Sekunde in Echtzeit. So lassen sich innerhalb von Minuten Millionen einzelner Partikel charakterisieren.
Die DIA wird durch ein hochauflösendes, extrem schnelles Zwei-Kamera System ermöglicht, welches mit einer ultrahellen LED Stroboskoplichtquelle ausgestattet ist. Kürzeste Belichtungszeiten erlauben die Erfassung von mehreren hundert Bildern pro Sekunde.
Die große Stärke der Dynamischen Bildanalyse gegenüber anderen Verfahren zur Partikelcharakterisierung ist die Fähigkeit, die Länge und die Breite eines Partikels zu messen und weitere Formparameter zu liefern, wie z. B. Aspektverhältnis, Symmetrie, Rundheit usw.
Laserbeugung
Bei der Partikelcharakterisierung mittels Laserbeugung (LD) wird der Winkel des gestreuten Lichts beim Durchgang der Partikel durch den/die Laserstrahl(en) gemessen. LD deckt einen breiten dynamischen Messbereich ab, der im Submikronbereich beginnt.
Die Ergebnisse basieren auf einer großen Partikelanzahl und stehen schnell und mit guter Wiederholbarkeit zur Verfügung. Das Verfahren ist weit verbreitet und hat Eingang in die ISO 13320 Norm gefunden.
Statische Bildanalyse
Für die hochpräzise Charakterisierung von Pulvern und Suspensionen von 0,5 µm bis 1500 µm bietet Microtrac eine Lösung auf Basis der statischen Bildanalyse, mit bis zu sechs Vergrößerungen und gemäß ISO 13322-1.
Anders als bei der DIA befindet sich die Probe während der Bildaufnahme in Ruhe. Daraus resultiert eine messerscharfe Abbildung jedes Partikels im gewählten Sichtfeld. Die Messdaten der so charakterisierten Partikel werden gespeichert und ein Übersichtsbild gibt dem Anwender einen klaren Hinweis auf die Partikelqualität der untersuchten Probe.
